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X荧光光谱仪的对比

发布日期:2021-03-03   浏览量:184
   X射线荧光光谱仪:用于快速筛选电子电气设备中的有害成分。
   应用于RoHS六种有害物质,包括:铅Pb,镉Cd,汞Hg,六价铬Cr6+,多溴二苯醚BDE,多溴联苯PBB,RoHS指令涉及的产品范围相当广泛,几乎涵盖了所有电子、电器、医疗、通信、玩具、安防信息等产品,它不仅包括整机产品,而且包括生产整机所使用的零部件、原材料及包装件,关系到整个生产链。
   工作原理:
   X-射线荧光光谱法,是用X-射线管发出的初级线束辐照样品,激发各化学元素发出二次谱线(X-荧光)。波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF)是用X射线直接照射样品发射X荧光,分光晶体将荧光光束色散后,测定各种元素的特征X-射线波长和强度,从而测定各种元素的含量;而普通能量色散型荧光光谱仪(ED-XRF)是通过滤光片得到背景相对较低的X射线,照射样品发射X荧光,X荧光借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量进行色散,根据各元素特征能量的强度高低来测定各元素的量;而偏振式能量色散X荧光光谱仪ED(P)-XRF是采用偏振次级靶,得到单色的X射线照射样品,再X荧光借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量进行色散,根据各元素特征能量的强度高低来测定各元素的量,这就大大提高了仪器的信噪比,提高了能谱仪分析轻元素的能力。 



结构功能:
   1、波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF),一般由光源(X-射线管)、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角,分光晶体是安装在一个精密的测角仪上,还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射,造成强度的损失,需要作为光源的X射线管的功率要大,一般为2~3千瓦。但X射线管的效率极低,只有1%的电功率转化为X射线辐射功率,大部分电能均转化为热能产生高温,所以X射线管需要专门的冷却装置(水冷或油冷),这就使得仪器结构比较复杂,硬件成本高,因此波谱仪的价格比能谱仪要高的多。
   2、普通能量色散型X-荧光光谱仪(ED-XRF),一般由光源(X-射线管)、滤光片、样品室和检测系统等组成,与波长色散型X荧光光谱仪(WD-XRF)的区别在于它不用分光晶体,机构比较简单,价位比较低,但轻元素的检出限较高。
   3、偏振式能量色散X荧光光谱仪ED(P)-XRF,不采用滤光片,而采用偏振次级靶,其它与普通能量色散X荧光光谱仪(ED-XRF)相似,结构也比较简单,价位也远低于波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF),但在轻元素的检出限方面接近波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF)。
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